|
База данных применения химических эффектов |
На главную страницу | О проекте | Контакты |
Новости | База данных | Статьи |
Вы находитесь здесь: dace.ru / База данных химических эффектов База данных по химическим эффектам в химических патентах
Все патенты, начинающие с С
СПЕКТРАЛЬНЫЙ АНАЛИЗ ТВЁРДЫХ ТЕЛ
ЭКСПРЕССНЫЙ СПОСОБ СПЕКТРАЛЬНОГО АНАЛИЗА ТВЕРДОТЕЛЬНЫХ МАТЕРИАЛОВ / Бельков М.В., Бураков В.С., Кирис В.В., Райков С.Н.
Институт молекулярной и атомной физики НАН Беларуси 220072, Минск, просп. Независимости, 70 Традиционный метод оптической эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой (ИСП-ОЭС) получил самое широкое распространение при анализе жидкофазных образцов. Наиболее простой способ анализа твердотельных материалов основан на прямом растворении анализируемого образца или его фрагмента. К сожалению, данный подход требует дополнительных время- и трудозатрат часто значительных, не позволяет проводить микроанализ образцов и т.д. Для анализа твердотельных проб без их растворения существуют различные варианты их прямого ввода в аналитический объем ИСП или предварительного перевода в паровую фазу в электротермическом атомизаторе с последующей транспортиров-кой в аналитический объем ИСП. Перспективен и эффективен ставший уже классическим метод лазерной абляции анализируемого материала в воздухе или буферном газе с транспортировкой газовым потоком продуктов абляции в плазму (ЛА-ИСП-ОЭС). Однако, прямой анализ твердотельных материалов требует для калибровки спектрометра сертифицированных стандартных образцов, номенклатура которых, как по матрицам, так и по химическим элементам очень ограничена. Для того, чтобы заменить калибровку спектрометра по твердотельным эталонам на стандартные водные растворы предлагалась электроискровая абляция проводящих металлических образцов в деионизованной воде. В настоящей работе предложен новый экспрессный способ спектрального анализа твердоте-льных материалов, основанный на лазерной абляции образца в деионизованной воде с после- дующей транспортировкой водной суспензии наночастиц в плазму ИСП. В результате обеспечиваются все инструментально-методические преимущества традиционной ЛА-ИСП- ОЭС в сочетании с калибровкой спектрометра по стандартным водным растворам. Для абля- ции материала анализируемых образцов использовался Nd:YAG лазер (LS 2134U, Lotis TII) с параметрами: длина волны – 1064 нм, энергия импульса – 0.19 Дж, стабильность энергии – ± 3%, длительность и частота повторения импульсов генерации – 7-8 нс и 10 Гц, соответствен- но, диаметр пучка – ≤ 6 мм, расходимость – ≤ 0.8 мрад. Излучение лазера остро фокусирова- лось короткофокусной линзой (50 мм) на поверхность мишени, погруженной в закрытую кювету с деионизованной водой объемом 8 мл. Анализировались металлический и диэлек- трический материалы: бронзовый сплав и стеклянный образец с известными составами. Пу- тем предварительной оптимизации в каждой серии измерений лазерное излучение в частот- ном режиме воздействовало в одну точку на поверхности мишени. Количество импульсов ограничивалось 50 для того, чтобы обеспечить условия микроанализа. Приготовленные вод- ные суспензии сразу же (для того, чтобы избежать агломерации наночастиц) анализировались стандартным образом по отработанным методикам с помощью ИСП-ОЭСпектрометра (IRIS Intrepid, Thermo-Electron), предварительно откалиброванного по стандартным водным эталонам. В результате первых экспериментов продемонстрировано удовлетворительное ко- личественное соответствие измеренных и априори известных компонентов анализируемых материалов. [18 Менд.съезд, 2007, т.4, с.9] | C01F, C01G, c13sl, c20fl, c30ve, |
dace.ru © 2005-2024 гг. Сделано dkos.ru |